非接触式分光测色仪的测量原理

非接触式分光测色仪从结构上来说跟接触式测量的东方测色仪有所差别，它可以调节测量面到测量口径的距离。本文简单介绍了非接触式分光测色仪的测量原理。采用设备：三恩时Y系列非接触式分光测色仪。

图2左侧图片为45/0系列测试原理图，按照CIE15规定45/0几何光学结构，光线环形均匀照明待测表面（图示中底部支撑板（固定）），此时仪器测量口径与待测表面固定距离为7.5mm；用黑筒、工作白板对测试仪器进行黑白校正，然后将待测零件放置同样位置，（注：仪器测量口径底面距离工作白板、待测零件的表面确保距离为7.5士0.2mm；仪器分别进行光学信号采集，经光学分光系统色散，电子集成电路运算，最终将待测零件的色度指标呈现给显示界面。

图2右侧图片为D/8系列测试原理图，按照CIE15规定D/8（包含镜面反射光）几何光学结构，光线经过积分球匀化，均匀漫反射照明待测表面（图示中底部支撑板（固定）），此时仪器测量口径与待测表面固定距离为3.0mm；用工作光阱、工作白板对测试仪器进行黑白校正，然后将待测零件放置同样位置，（注：仪器测量口径底面距离工作白板、待测零件的表面确保距离为3.0士0.1mm；仪器分别进行光学信号采集，经光学分光系统色散，电子集成电路运算，最终将待测零件的色度指标呈现给显示界面。

注意：待测零件测试面与测量探头平面的距离精度和平行度对测试准确性有影响，请尽量减小误差，将误差控制上述范围之内。

图3左侧图片为45/0系列测试示意图，在测试待测零件测试面时，需要确保测试面与测量口径底面的距离为7.5士0.2mm。常用的操作方法，将待测零件放置在底座支撑板上，向仪器输入样品高度H，仪器根据输入样品高度调整仪器头部位置，从而确保测试面与测量口径底面.5?.2mm。当不清楚待测零件高度时，需要在仪器样品高度界面进行高度调试。

右侧图片为D/8系列测试示意图，在测试待测零件测试面时，需要确保测试面与测量口径底面的距离为3.0士0.1mm。常用的操作方法，将待测零件放置在底座支撑板上，向仪器输入样品高度H，仪器根据输入样品高度调整仪器头部位置，从而确保测试面与测量口径底面3.0士0.1mm。当不清楚待测零件高度时，需要在仪器样品高度界面进行高度调试。在实际测试过程中，为提高测试效率，可以做工装治具确保测试待测零件测试面与测量口径的距离（参照工作白板、黑筒的结构）。

注：电机带动仪器头部移动过程中，避免手、物体等出现在仪器头部运动的范围内，以免伤到身体、损坏物体及仪器。